Systèmes de radiographie numérique et de tomographie à rayons X

Nikon Metrology offre la plus grande variété de solutions en métrologie, pour des applications qui vont de l’électronique miniature aux plus grands avions. Nikon Metrology propose des instruments de mesure précis et innovants favorisant la mise en place d’un processus intégré performant, de la conception à la fabrication, pour que les fabricants fournissent des produits de toute première qualité en un temps aussi court que possible.
 

Depuis 1986 Nikon Metrology conçoit et assemble des systèmes de radiographie numérique et de tomographie à rayons X. Fort de ses sources à micro foyer – de conception interne – offrant un large spectre d’énergie, des plus modestes à 130 kV jusqu’aux plus fortes puissances à 450 kV (source unique au monde), la gamme rayons X est la plus étoffée du marché.
En effet, chaque système dispose d’un ensemble source-détecteur et mécanique associée, le tout ingénieusement configurée dans une cabine destinée à assurer la radioprotection des utilisateurs.

La gamme Nikon a récemment vu l’arrivée d’une nouvelle gamme nommée Large Envelop System proposant, sur une base granit, des systèmes grandes dimensions modulables selon les besoins industriels. Capables de scanner des pièces industrielles de plusieurs mètres, ces nouvelles structures, peuvent accueillir plusieurs sources (225 kV et 450 kV par exemple) et offrent un outil performant de Contrôle Non Destructif.

Disposant d’un département Projets Spéciaux, Nikon Metrology a également la capacité de répondre à des cahiers des charges spécifiques pour une conception « sur-mesure » pour encore plus d’innovation.

Fort de son partenariat avec JEOL depuis plus de 10 ans, Nikon Metrology vous propose en exclusivité le JCM 7000. Nous sommes à la 4eme génération de microscope électronique à balayage (MEB) de table, ce qui fait de lui un produit dont les fonctionnalités n’ont cessé de s’améliorer depuis 2008. Ses conditions de réglage automatique, sa caméra couleur pour une localisation rapide, son analyse EDS en live et sa table motorisée XY font de ce système le meilleur produit de sa catégorie.

e optique est synchronisée avec l'image SEM pour une navigation sans effort. Il est alors possible de passer automatiquement de l'image optique à l'image SEM en direct en effectuant un zoom vers l’avant. Les zones analysées sont affichées sur l'image ou le graphique du support pour une carte instantanée de ces zones.

NEXIV VMZ-R-TZ

La gamme Nexiv est un système de mesure par vidéo permettant d’effectuer des mesures très précises grâce à sa structure rigide et ses règles Nikon. Ce système est conçu pour mesurer tous types de pièces mécaniques, plastiques, électroniques, PCB, wafer… Ses 3 éclairages par LED nous permettent de révéler tous types de contrastes, de la plus grande dimension à la plus petite avec un choix de 5 catégories de zoom allant de 0.5x à 120x.

Vous trouverez également l’ensemble de notre gamme NEXIV (iNEXIV – VMA et NEXIV VMZ) sur notre site internet.

 

Disposant d’un département Projets Spéciaux, Nikon Metrology a également la capacité de répondre à des cahiers des charges spécifiques pour une conception « sur-mesure » pour encore plus d’innovation.